信息來源于：互聯(lián)網(wǎng) 發(fā)布于：2021-10-31
對(duì)于單片機(jī)應(yīng)用開發(fā)來說，軟件程序代碼的穩(wěn)定性、抗干擾性和運(yùn)行效率是一個(gè)很大的難題。今天中創(chuàng)電子介紹了單片機(jī)開發(fā)的4種高效技巧，一起往下看看吧!
1、如何提升單片機(jī)開發(fā)的效率?
根據(jù)市場(chǎng)，使用C語言編寫單片機(jī)程序是單片機(jī)發(fā)展和應(yīng)用的必然趨勢(shì)。在使用C語言程序設(shè)計(jì)時(shí)，為了達(dá)到高效率，熟悉C語言編譯程序。首先測(cè)試每個(gè)C語言編譯后對(duì)應(yīng)于匯編語言的語句行數(shù)量，以便清楚地了解其效率。
將來程序設(shè)計(jì)時(shí)，使用編譯效率最高的語句。每個(gè)嵌入式系統(tǒng)中的C編譯程序都會(huì)有一些有所不同的地方，因此編譯效率也就有所不同，優(yōu)異的嵌入式系統(tǒng)C編譯程序代碼長度和運(yùn)行時(shí)間只比用匯編語言編寫的代碼多5-20%。
2、如何減少單片機(jī)開發(fā)的BUG?
首先要考慮在系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)的超限管理參數(shù)，來達(dá)到減少BUG的效果。如以下3個(gè)參數(shù)：
資源參數(shù)：這些參數(shù)主要指系統(tǒng)中電路、設(shè)備、功能單元如存儲(chǔ)器容量、存儲(chǔ)器長度、堆疊深度等的資源。
應(yīng)用參數(shù)：這些應(yīng)用參數(shù)通常表現(xiàn)為一些單片機(jī)，功能單元的用途情況。工藝參數(shù)：指系統(tǒng)在運(yùn)行過程中的有序變化。
物理參數(shù)：主要是系統(tǒng)的輸入?yún)?shù)，包括激勵(lì)參數(shù)，采集處理過程中的運(yùn)行參數(shù)，以及處理結(jié)束的結(jié)果參數(shù)。
3、單片機(jī)的抗干擾問題如何解決?
通常隔離干擾路徑是很難保證能免受干擾的，最有效的防干擾方法是去除干擾源。因此，也只能看單片機(jī)的抗干擾性是不是足夠強(qiáng)。軟件抗干擾性基于其設(shè)計(jì)方案靈活性，節(jié)省硬件資源，穩(wěn)定性好等優(yōu)勢(shì)，在提升硬件系統(tǒng)抗干擾性的同時(shí)，也變得越來越獲得重視。
對(duì)單片機(jī)干擾常見的現(xiàn)象就是復(fù)位，至于程序跑飛，其實(shí)還可以用軟件陷阱和監(jiān)視器把程序拉回復(fù)位狀態(tài)，因此 單片機(jī)軟件抗干擾重要的是對(duì)復(fù)位狀態(tài)的處理。
4、對(duì)單片機(jī)開發(fā)程序進(jìn)行測(cè)試
單片機(jī)開發(fā)程序完成后，對(duì)于不同的程序會(huì)有不同的測(cè)試方法，但是有幾個(gè)共通性是必須要測(cè)試的：上電掉電、老化、功能完整性、EFT/ESD等常規(guī)測(cè)試。
在之前很多的功能是通過數(shù)字電路或模擬電路來實(shí)現(xiàn)效果，如今可以通過軟件程序的開發(fā)設(shè)計(jì)用單片機(jī)來實(shí)現(xiàn)，通過微控系統(tǒng)技術(shù)取代硬件。
